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高/低溫(儲存/運(yùn)行)測試是模擬高/低溫環(huán)境下對產(chǎn)品運(yùn)作的影響,用于考核產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)性和耐久性。
溫度循環(huán)試驗(yàn):
這種測試模擬產(chǎn)品在使用過程中可能遇到的高低溫循環(huán),檢查產(chǎn)品在溫度變化下的性能。
高溫高濕試驗(yàn):
結(jié)合高溫和濕度,測試產(chǎn)品在濕熱環(huán)境下的性能。
熱沖擊試驗(yàn):
快速將產(chǎn)品從高溫轉(zhuǎn)移到低溫環(huán)境,或者相反,以測試產(chǎn)品對溫度突變的適應(yīng)性。
低溫存儲試驗(yàn):
在低溫環(huán)境下存儲產(chǎn)品,評估其長期性能和可靠性。
高溫老化試驗(yàn):
在高溫環(huán)境下長時間暴露產(chǎn)品,以加速其老化過程,評估產(chǎn)品的使用壽命。
溫度梯度試驗(yàn):
在不同的溫度梯度下測試產(chǎn)品,以了解其在不同溫度下的性能變化。
結(jié)露試驗(yàn):
在特定的溫度和濕度條件下,測試產(chǎn)品表面是否會出現(xiàn)結(jié)露現(xiàn)象。
所有電子電氣產(chǎn)品,包括但不限于:家用電器,信息技術(shù)類設(shè)備,音視頻設(shè)備,照明燈具,終端設(shè)備,新能源設(shè)備;
GB/T 2423.1/2、IEC 60068-2-1/2、GJB 150.3/4A、MIL-STD-810F、GJB 4.2-83、GJB 360A-96、GJB 548A-96、MIL-STD-883D、SJ/T 10325-92、GB/T 13543-92、QC/T 413、YD/T 1591、GJB 128A-97 、MIL-STD-202F、SJ/T 10325-92、ISO 16750、GB/T 28046及車廠標(biāo)準(zhǔn)等。
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自主測試,麻煩少
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